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              簡易四探針測試儀SZT-4

              SZT-4數字式四探針測試儀,是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程,最小可以測量0.0001Ω最大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整,可以對某些測量結果進行修整,例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數,對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。SZT-4數字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重煉回料的分選。

              SZT-4數字式四探針測試儀,是二量程的電阻測量儀器,配以手持式測試頭或座式測試架,可用來測量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。(客戶根據不同的要求可以選擇不同的量程,最小可以測量0.0001Ω最大可以測量100000Ω,根據電流檔定精度)通過對恒流源的調整,可以對某些測量結果進行修整,例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數,對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。SZT-4數字式四探針測試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對重煉回料的分選。

              本儀器工作環境條件為:
              溫  度:18℃―25℃
              相對濕度:60%-80%
              工作室內應無強電場干擾,不與高頻設備共用電源。

              二,技術參數

              1,測量范圍
              電 阻 率:0.01-200Ω-cm
              方塊電阻:0.01-200Ω-口
              電    阻:0.01-200.0

              2,數字電壓表 
              (1)量    程:200mV單一量程
              (2)誤    差:讀數 ±0.2%±3字
              (3)輸入電阻:>10MΩ

              3,恒流源
              (1)電流輸出:0~10mA連續可調
              (2)量    程:1mA, 10mA
              (3)誤    差:±0.2%±3字,

              4,手持式四探針測試頭
              (1)探  針  間  距:1mm
              (2)探針機械游移率:±1.0%
              (3)探  針  材  料:碳化鎢,φ0.
              (4)壓力:最大 2Kg

              5,電源:220V±10%:50Hz
              功耗:5W

              6,外形尺寸:

              7,使用方法:取出儀器平放於桌上,將三芯電源線接入儀器的電源插座中,并接通交流電壓(220V),再將測試探頭的插頭插入相應的插座中,按下電源開關使儀器得電,儀器上的數字電壓表就有讀數顯示,如果面板上的二個功能開關全部處於彈出狀態,則二個開關旁邊的“調整”指示燈和:“1mA”指示燈將被點亮,此時旋轉電流調節旋鈕電壓表讀數就會發生有規則的變化,這說明儀器已經可以正常工作。
              下一步就可以跟據測試的須要對電流進行調整。電流調整應該將電流開關放在10mA的位置上。

              8,電流調整:
              (1)半導體(硅)材料的電阻率測試:在10mA電流量程上將電流調到6.28mA,相當于在10mA電流情況下測得的結果,乘以探頭修正系數0.628。由於恒流源的調整,1mA和10mA是同步的,在`10mA調準以后1mA量程同樣包含有這個修正系數。
              (2)半導體(硅)材料薄層擴散,玻璃或塑料的薄導電鍍復層的方塊電阻 測試:在10mA電流量程上將電流調至4.53mA, 測得結果乘以10,就是方塊電阻。
              (3)電阻測試:電阻測試不能使用探頭,必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭“電阻測試線”(選配件)。電流調到10mA,電壓表的顯示值就是電阻值,不用修正。
              (4)在做好測試前的準備工作之后,取下探頭保護蓋,將探頭壓在被測工件上,使四根探針和工件保持良好接觸,

              使用時的注意事項:
              (1)保護蓋取下后一定要保存好,用畢仍要蓋好,以防探針損壞。
              (2)儀器操作時,應備戴乾燥手套,操作場地,桌椅均應保持乾燥。
              (3)在被測材料外形尺寸允許的情況下,建議使用臺式測試架(選購件),可使測試精度和穩定性都會有所提高。
              (4)對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時,還應對測試結果進行厚度修正,修正參數見參數表,附錄`1A和附錄1B 。
              (5)附錄2,是對片狀工件外形(園形,矩形)和測量位置的修正參數表。

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